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原子間力顕微鏡
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====== 原子間力顕微鏡 ====== ==== atomic force microscope (**AFM**) ==== {{tag>..c07 ..c08 ..c15}} 走査型プローブ顕微鏡の一種.極めて柔なカンチレバーの端に鋭い探針を形成し,この探針を試料表面に接触させながら面内方向に走査し,高感度な変位センサによってカンチレバーの変位を検出することで,探針に作用するファンデルワールス力(~10<sup>-11</sup>N)などの極微弱な相互作用力の分布やトポグラフィーを画像化する顕微鏡. ~~NOCACHE~~
15/1003696.txt
· 最終更新: 2023/02/17 11:33 by
127.0.0.1
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