メカトロ機構における基礎計測技術
2012年10月25日 | 情報・知能・精密機器部門講習会主催No.12
【開催日】
2012年10月25日(木)9.30~16.20
【趣 旨】
機械工学をベースとした様々な高性能応用機器が開発されており,特に電子・情報・医療分野等において特徴的な技術開発が進められています.一方,多くの機器において共通する計測技術として,静的・動的なひずみ・変位の測定技術,更に信頼性の高い測定に必要なS/N比向上等に関する基本的な考え方や測定技術は,その重要性に反してこれまで体系的に理解・習得する機会があまり提供されていませんでした.本講習会では,機械計測技術として静的なひずみ計測,動的な振動計測,更に信頼性の高い測定の基礎となる機械振動および電気ノイズの取り扱いに焦点を当てた基礎計測技術に関する講習会を企画しました.企業の若手技術者や学生,またこれらの技術に関する現場技術者を対象に,それぞれの専門家から分かり易く解説していただきます.
【題 目】 司会:神戸大学 神野 伊策
9.30~10.50 「ひずみゲージの使い方」 (株)東京測器研究所 企画技術課 中村 滋
11.00~12.20 「レーザー振動変位計測の基礎と応用」 ネオアーク(株) 小林 善紀
12.20~13.30 (昼食 1時間)
13.30~14.50 「機械振動の計測と低減」 東京電機大学 教授 佐藤 太一
15.00~16.20 「電気ノイズの減らし方」 (株)日立製作所 横浜研究所 鳥越 誠
【定 員】
40名(申込先着順により定員になり次第締め切ります.)